X射線熒光 (XRF) 分析儀能夠對固體、粉末、液體等樣品進行定性和定量分析，檢測范圍從Na-U，分析濃度從100％－亞ppm級。
具有高靈敏度、分析速度快、ppb級檢出限等特點，被廣泛應用于生態環境、食品安全、生物醫藥、材料科學、地球化學、科學研究等多個領域。
通過對粉末、單晶或多晶體等塊體材料等樣品進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息，是目前研究物質的物相和晶體結構最有力的方法。
測量鍍層厚度為什么如此重要？測量鍍層厚度可以幫您降低物料成本，響應重要的工業標準，并能維護您在行業中的聲譽。無論是在生產過程中的檢測還是對來料進行檢驗，都是如此。 浪聲鍍層分析儀系列致力于為您提供專業的涂鍍層分析解決方案，儀器具有手持式、便攜式、臺式等型號，可根據您的需求對光束尺寸、探測器、準直器
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基于物聯網數據傳輸+大數據+信息化軟件,為客戶打造智能在線監測解決方案，無需人員值守，輕松實現實時連續檢測/監測和遠程監控。
可對各種固態、液態、氣態物質的分子組成、結構及相對含量等進行分析，實現對物質的鑒別與定性，亦可與其他技術結合相互應用，更高效地確定樣品的種類和結構。
具有快速、原位分析的特點，適用于多種物質狀態，包括固體、液體和氣體 ，如無需復雜樣品前處理、被廣泛應用于金屬材料、礦石、材料科學、工業過程控制等領域 。
無論是材料缺陷分析、生物樣本形態觀察，還是納米尺度的精密測量，作為探索微觀世界的強大工具，SEM都能提供清晰的高分辨率圖像！相比于傳統的，新型SEM結合了EDS光學技術，既是科研探索的得力助手，也是工業應用的優選解決方案！
